Zeltiņš, M., Slaidiņš, I. Measurement Circuits and Data Processing for Transistor 1/f Noise Parameter Extraction. Telekomunikācijas un elektronika. Nr.2, 2002, 17.-21.lpp. ISSN 1407-8880.
Publikācijas valoda English (en)
Publikācijas veids Publikācija RTU zinātniskajā žurnālā
Pamatdarbībai piesaistītais finansējums Nav zināms
Pētniecības nozare 2. Inženierzinātnes un tehnoloģijas
Pētniecības apakšnozare 2.2. Elektrotehnika, elektronika, informācijas un komunikāciju tehnoloģijas
Šī vietne izmanto sīkdatnes, lai uzlabotu lietošanas pieredzi un optimizētu tās darbību. Turpinot lietot šo vietni, Jūs piekrītiet sīkdatņu lietošanai!