XRD uzņemšanas parametru ietekme uz vāji kristālisku materiālu difraktogrammām

Latvijas Universitātes raksti. 762.sēj.: Zemes un vides zinātnes 2011
Agnese Stunda-Zujeva, Līga Bērziņa-Cimdiņa, Ilze Lūse, Valdis Segliņš

Rentgenstaru difrakcija (XRD) mūsdienās ir plaši pielietota kristālisko materiālu kvalitatīvas un kvantitatīvas analīzes tehnika. Vāji kristāliskiem materiālu difraktogrammām ir raksturīgas mazas maksimumu intensitātes un tiek ņemts vērā fona līnijas raksturs. Pētījumā analizēta dažādu difraktogrammu uzņemšanas parametru ietekme uz difraktogrammas kopējo intensitāti, fona izliekumu un dažādiem difrakcijas pīķu parametriem. Konstatēts, ka izvēloties optimālos parametrus (apstarošanas laukumu, soli un spraugas) būtiski var mainīt dažādus difraktogrammas kvalitātes parametrus, tādēļ pirms šādu materiālu analīzes ir jāizvirza pētījuma prioritātes, kuri kvalitātes faktori ir visbūtiskākie.

Atslēgas vārdi
X-ray diffraction, powder, poorly crystalline, XRD data collecting, clay
Hipersaite
http://www.lu.lv/fileadmin/user_upload/lu_portal/apgads/PDF/LUR-762_Zemes_vides-zinatnes.pdf#page=93

Stunda-Zujeva, A., Bērziņa-Cimdiņa, L., Lūse, I., Segliņš, V. XRD uzņemšanas parametru ietekme uz vāji kristālisku materiālu difraktogrammām. No: Zemes un vides zinātnes: Latvijas Universitātes raksti. Rīga: Latvijas Universitāte, 2011, 93.-101.lpp. ISBN 978-9984-45-324-8. ISSN 1407-2157.

Publikācijas valoda
Latvian (lv)