Informācija par autoru
Vārds, Uzvārds:

Tony Laas

Publikācijas
Atrasti 1 rezultāti tiek attēloti no 1 līdz 1.
Interaction of Point Defects with Impurities in the Si-SiO2 System and Its Influence on the Properties of the Interface
(2010)
Daniel Kropman, E. Mellikov, K. Lott, T. Kärner, I. Heinmaa, Tony Laas, Artūrs Medvids, Wolfgang Skorupa, S. Prucnal, S. Zvyagin, E. Cizmar, M. Ozerov, J. Woznitsa
Anonīmi recenzēts zinātniskais raksts, kas publicēts izdevumā ar starptautisku redkolēģiju un pieejams citā indeksētā datu bāzē