Zinātniskās darbības atbalsta sistēma
Latviešu English
Informācija par autoru
Vārds, Uzvārds Alexandr Zaslavski

Publikācijas

Nosaukums Publikācijas veids Izdošanas gads Autori
Charge Trap Analysis of Nanolayer Si3N4 and SiO2 by Electron Irradiation Assisted Photoelectron Emission Zinātniskais raksts, kas indeksēts Web of science un/vai Scopus datu bāzē 2020 Jurijs Dehtjars, Gennady Enichek, Marina Romanova, Ben Schmidt, Aleksandrs Viļķens, Thomas Alexander Yager, Alexandr Zaslavski
Atrasts viens ieraksts.